數(shù)字源表IV掃描光耦/mos管靜態(tài)電特性參數(shù)優(yōu)勢

• 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源,，并同步測量電流和或電壓,，支持四象限工作,?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?，預(yù)防器件損壞,。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%,。

• 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量,，更準(zhǔn)確的低內(nèi)阻量測;集成線性階梯掃描,、對數(shù)階梯掃描、自定義掃描等模式;專業(yè)l-V特性及半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件,。

• 易學(xué)實(shí)用-簡化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應(yīng)用的測量準(zhǔn)備工作,。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI),提供圖形化和數(shù)字化兩種測量結(jié)果顯示模式，便于使用和查看,。詳詢一八一四零六六三四七六,；

多合一高精密SMU，J致簡化測量

統(tǒng)的半導(dǎo)體I-V特性測量方案通常是復(fù)雜且成本昂貴的,，需要多種儀器配合完成測試,，對不同儀器進(jìn)行編程、同步,、連接,、測量和分析，既復(fù)雜又耗時(shí),，還需占用大量測試臺空間,。

S系列數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì),、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載,，其高性能架構(gòu)允許其使用作為波形發(fā)生器,、以及自動電流-電壓(I-V)表征系統(tǒng)。極大縮短測試系統(tǒng)的開發(fā),、建立和維護(hù)的時(shí)間,，同時(shí)節(jié)省測試架或測試臺的寶貴“空間”，降低購買測試系統(tǒng)的整體成本,。

四象限工作,，可以作為源或負(fù)載

電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖,。D一,、三象限即電壓電流同向，源表對其它設(shè)備供電,，稱為源模式,；第二、四象限即電壓電流反向,，其它設(shè)備對源表放電,，源表被動吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑,，稱為阱模式,。

與傳統(tǒng)矩陣電源不同,，S系列源表在同等功率下，客戶可根據(jù)實(shí)際需求,，選擇大電壓小電流或小電壓大電流輸出,。選擇的量程不同，S系列源表的源/阱極限也有區(qū)別,。

源限度-電壓源:

士10V  (≤3A量程),，土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

源限度-電流源:

土3.15安(≤10V量程)，土1.05安(≤30V量程),，士105mA (≤300V量程)

輕松滿足常用的測量需求

觸摸屏幕上的任意圖標(biāo),，就會出現(xiàn)圖像化設(shè)置屏幕。在測量前按照向?qū)е鹨辉O(shè)置,，操作更直觀,。

提供的應(yīng)用程序

-   序列掃描

-   自定義序列

-   數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測試模式；持續(xù)輸出恒流源測試模式

-   APD管

-   晶體管：MOSFET管測試,；三極管測試

-   LIV：PIN管掃描測試

-   Gummer：雙臺源表使用同樣參數(shù)進(jìn)行掃描

*二極管完整l-V特性曲線

數(shù)字源表應(yīng)用領(lǐng)域：

分立器件特性測試：電阻,、二極管、發(fā)光二極管,、齊納二極管,、PIN二極管、BJT三極管,、MOSFET,、SiC、GaN等器件,；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED,、太陽能、電池,、DC/DC轉(zhuǎn)換器,；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應(yīng)等,；
有機(jī)材料特性測試：電子墨水,、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯,、納米線等,；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng),；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),；

選擇武漢普賽斯儀表的理由

武漢普賽斯是國內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓,、電流范圍,，產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗(yàn),、市面有近500臺源表在使用，SXXB系列高精度數(shù)字源表,，相比于傳統(tǒng)S系列源表,，直流更大、精度更高,、準(zhǔn)確度提升至0.03%,，直流電流升級至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加晶準(zhǔn),、穩(wěn)定的測試方案

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