在半導體和集成電路工藝中,，材料,、晶圓,、芯片的測試是必不可少的環(huán)節(jié),。數(shù)字源表SMU具備源測功能，可以產(chǎn)生電流-電壓(I-V)特性曲線，是半導體材料,、器件電性能表征測量的核心,。在測試時，通過數(shù)字源表提供激勵并對測量信號進行采集,，首先將電流或電壓輸入被測器件（DUT）,，測量該器件對此輸入信號的響應；這些信號的路徑為：源表的輸出端接入電纜,，電纜和探針連接,，電流或電壓信號通過探針至芯片。

普賽斯數(shù)字源表集電壓源,、電流源,、電壓表、電流表,、電子負載功能于一體,，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量,、3500V高壓下nA級測量,、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富,，新推出更高精度,、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表,，準確度提升至±0.03%,，直流電流升級至3A，可為半導體行業(yè)提供更加精準,、穩(wěn)定的測試方案,；晶圓/芯片微弱電流測試VI源表認準普賽斯儀表，詳詢18140663476

產(chǎn)品特點
5寸800*480觸摸顯示屏,，全圖形化操作           

內(nèi)置強大的功能軟件,，加速用戶完成測試，如LIV,、PIV

源及測量的準確度為0.03%

四象限工作（源和肼）,，源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式,，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式,，RS-232,、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

源限度-電壓源：±10V（≤3A量程）,，±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）,；

源限度-電流源：±3A（≤10V量程）,，±1A（≤30V量程）,，±100mA（≤300V量程）,；

過量程： 105%量程，源和測量,；

穩(wěn)定負載電容：<22nF,；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）,；

線纜保護電壓：輸出阻抗30KΩ,，輸出電壓偏移<80mV；

蕞大采樣速率：S系列1000 S/s,，SXXB系列32000S/s;

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出,，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出,，同一時刻只能用前或者后面板接口,；

通信口：RS-232、GPIB,、以太網(wǎng),；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃,；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 ×425mm長,；

重量：5KG

質(zhì)保期：1年

S系列源表應用

分立器件特性測試：電阻、二極管,、發(fā)光二極管,、齊納二極管、PIN二極管,、BJT三極管,、MOSFET、SiC,、GaN等器件,；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能,、電池,、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測試：電阻率,、霍爾效應等,；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯,、納米線等,；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng),；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),；

晶圓/芯片微弱電流測試VI源表認準普賽斯儀表咨詢，詳詢一八一四零六六三四七六,；普賽斯數(shù)字源表標準的SCPI指令集,，Y秀的性價比，良好的售后服務與技術(shù)支持,，集電壓源,、電流源、電壓表,、電流表,、電子負載功能于一體，支持四象限工作