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漏電流 開(kāi)短路測(cè)試 電氣特性

 
 
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品牌 普賽斯儀表
測(cè)試范圍 ±300mV~±300V/±100pA~±3A
測(cè)試精度 0.03%
工作環(huán)境 25±10℃
更新 2024-12-12 16:36
手機(jī)號(hào):18140663476
 
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武漢普賽斯儀表有限公司

普通會(huì)員第2年
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產(chǎn)品詳細(xì)

芯片測(cè)試作為芯片設(shè)計(jì),、生產(chǎn),、封裝,、測(cè)試流程中的重要步驟,,是使用特定儀器,,通過(guò)對(duì)待測(cè)器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測(cè),區(qū)別缺陷,、驗(yàn)證器件是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo),、分離器件好壞的過(guò)程。其中直流參數(shù)測(cè)試是檢驗(yàn)芯片電性能的重要手段之一,,常用的測(cè)試方法是FIMV(加電流測(cè)電壓)及FVMI(加電壓測(cè)電流),。
傳統(tǒng)的芯片電性能測(cè)試需要數(shù)臺(tái)儀表完成,如電壓源,、電流源,、萬(wàn)用表等,,然而由數(shù)臺(tái)儀表組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程,、同步、連接,、測(cè)量和分析,,過(guò)程復(fù)雜又耗時(shí),又占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間,,而且使用單一功能的儀表和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,,有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺陷,無(wú)法滿足高效率測(cè)試的需求,。
實(shí)施芯片電性能測(cè)試的蕞佳工具之一是數(shù)字源表(SMU),,數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源,、電壓表、電流表和電子負(fù)載,,支持四象限功能,,可提供恒流測(cè)壓及恒壓測(cè)流功能,可簡(jiǎn)化芯片電性能測(cè)試方案。漏電流 開(kāi)短路測(cè)試 電氣特性就找普賽斯儀表,,詳詢(xún)18140663476

此外,,由于芯片的規(guī)模和種類(lèi)迅速增加,很多通用型測(cè)試設(shè)備雖然能夠覆蓋多種被測(cè)對(duì)象的測(cè)試需求,,但受接口容量和測(cè)試軟件運(yùn)行模式的限制,,無(wú)法同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)器件(DUT)進(jìn)行測(cè)試,因此規(guī)?;臏y(cè)試效率極低,。特別是在生產(chǎn)和老化測(cè)試時(shí),往往要求在同一時(shí)間內(nèi)完成對(duì)多個(gè)DUT的測(cè)試,,或者在單個(gè)DUT上異步或者同步地運(yùn)行多個(gè)測(cè)試任務(wù),。

基于普賽斯CS系列多通道插卡式數(shù)字源表搭建的測(cè)試平臺(tái),可進(jìn)行多路供電及電參數(shù)的并行測(cè)試,,高效,、精確地對(duì)芯片進(jìn)行電性能測(cè)試和測(cè)試數(shù)據(jù)的自動(dòng)化處理。主機(jī)采用10插卡/3插卡結(jié)構(gòu),,背板總線帶寬高達(dá)3Gbps,,支持16路觸發(fā)總線,滿足多卡設(shè)備高速率通信需求,;匯集電壓,、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,具有通道密度高,、同步觸發(fā)功能強(qiáng),、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn),蕞高可擴(kuò)展至40通道,。

DC參數(shù)測(cè)試iv源表


使用普賽斯數(shù)字源表進(jìn)行芯片的開(kāi)短路測(cè)試(Open/Short  Test),、漏電流測(cè)試(Leakage  Test)以及DC參數(shù)測(cè)試(DC ParametersTest)。

開(kāi)短路測(cè)試(Open-Short  Test,,也稱(chēng)連續(xù)性或接觸測(cè)試),,用于驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性,測(cè)試的過(guò)程是借用對(duì)地保護(hù)二極管進(jìn)行的,,測(cè)試連接電路如下所示:


DC參數(shù)測(cè)試iv源表

漏電流測(cè)試,,又稱(chēng)為L(zhǎng)eakage  Test,漏電流測(cè)試的目的主要是檢驗(yàn)輸入Pin腳以及高阻狀態(tài)下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高,測(cè)試連接電路如下所示:



DC參數(shù)測(cè)試iv源表





DC參數(shù)的測(cè)試,,一般都是Force電流測(cè)試電壓或者Force電壓測(cè)試電流,,主要是測(cè)試阻抗性。一般各種DC參數(shù)都會(huì)在Datasheet里面標(biāo)明,,測(cè)試的主要目的是確保芯片的DC參數(shù)值符合規(guī)范:

DC參數(shù)測(cè)試iv源表


漏電流 開(kāi)短路測(cè)試 電氣特性認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,,詳詢(xún)一八一四零六六三四七六;普賽斯數(shù)字源表集電壓源,、電流源,、電壓表、電流表,、電子負(fù)載功能于一體,,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測(cè)量,、3500V高壓下納安級(jí)測(cè)量,、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富




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