精密數(shù)字源表+高精密電流源+SMU源表模塊認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,，相比于傳統(tǒng)S系列源表,，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級(jí)至3A,，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn),、穩(wěn)定的測(cè)試方案；詳詢一八一四零六六三四七六,；

S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：
1,、多功能測(cè)量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高達(dá)300V,，電流低至30pA,；
2、實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測(cè)量同步進(jìn)行,，提高測(cè)試效率,。
3、具備對(duì)測(cè)試器件的保護(hù)功能,，可進(jìn)行自我限制,，避免因過(guò)充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能,，為器件提供完善的保護(hù)功能,，避免器件損壞。
4,、觸屏圖形化操作,，使用簡(jiǎn)單。開放式平臺(tái),，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對(duì)性的開發(fā)軟件,。

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作           

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,，加速用戶完成測(cè)試,，如LIV、PIV

源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼）,，源及測(cè)量范圍：高至300V,，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲(chǔ),，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

支持多種通訊方式,，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

Z大輸出功率：30W,，4象限源或肼模式,；

源限度：電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程）,，±300V（≤100mA量程）,；

電流源：±3.15A（≤10V量程），±1.05A（≤30V量程）,，±105mA（≤300V量程）,；

過(guò)量程：105%量程，源和測(cè)量,；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF,；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）,；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ,，輸出電壓偏移<80uV；

Z大采樣速率：1000  S/s,；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出,，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出,，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口,；

通信口：RS-232、GPIB,、以太網(wǎng),；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃,；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長(zhǎng)；

S系列源表應(yīng)用

分立器件特性測(cè)試：電阻,、二極管,、發(fā)光二極管、齊納二極管,、PIN二極管,、BJT三極管、MOSFET,、SiC,、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試：LED/AMOLED,、太陽(yáng)能,、電池,、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測(cè)試：電阻率,、霍爾效應(yīng)等,；
有機(jī)材料特性測(cè)試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等,；
納米材料特性測(cè)試：石墨烯,、納米線等；
激光器特性測(cè)試：窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng),；
功率器件：靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng),；
電流傳感器：動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)；