半導體器件測試設備iv+cv曲線測試儀概述：

SPA-6100半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),，具有高精度,、寬測量范圍、快速靈活,、兼容性強等優(yōu)勢,。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V),、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研究,、半導體芯片器件設計以及先進工藝的開發(fā),，具有桌越的測量效率與可靠性。

基于模塊化的體系結構設計,，SPA-6100半導體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,，靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓,、100A大電流,、1pA小電流分辨率的測量，同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量,。SPA-6100半導體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導體參數(shù)測試軟件,支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作,能夠從測量設置,、執(zhí)行、結果分析到數(shù)據(jù)管理的整個過程,，實現(xiàn)高效和可重復的器件表征;也可與高低溫箱,、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測試需求,。詳詢一八一四零六六三四七六,；

產(chǎn)品特點：

30μV-1200V；1pA-100A寬量程測試能力,；

測量精度高,，全量程下可達0.03%精度；

內置標準器件測試程序,，直接調用測試簡便,；

自動實時參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖,、分析函數(shù),；

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；
提供靈活的夾具定制方案,，兼容性強,；

免費提供上位機軟件及SCPI指令集；

典型應用：

納米,、柔性等材料特性分析,；

二極管；

MOSFET,、BJT,、晶體管、IGBT,；

第三代半導體材料/器件,；

有機OFET器件,；

LED、OLED,、光電器件,；

半導體電阻式等傳感器；

EEL,、VCSEL,、PD、APD等激光二極管,；

電阻率系數(shù)和霍爾效應測量,；

太陽能電池；

非易失性存儲設備,；

失效分析,；

系統(tǒng)技術規(guī)格

半導體器件測試設備iv+cv曲線測試儀訂貨信息

硬件指標-IV測試

半導體材料以及器件的參數(shù)表征，往往包括電特性參數(shù)測試,。絕大多數(shù)半導體材料以及器件的參數(shù)測試,，都包括電流-電壓(I-V)測量。源測量單元(SMU),，具有四象限,，多量程，支持
四線測量等功能,，可用于輸出與檢測高精度,、微弱電信號，是半導體|-V特性測試的重要工具之-,。SPA-6100配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU,低壓脈沖SMU,大電流SMU,。用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配，實現(xiàn)測試測試效率與開支的平衡,。

靈活可定制化的夾具方案

    針對市面上不同封裝類型的半導體器件產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗,、安裝簡單,、種類豐富等特點，可
用于二極管,、三極管,、場效應晶體管、IGBT,、SiC  MOS,、GaN等單管，模組類產(chǎn)品的測試;也可與探針臺連接,，實現(xiàn)晶圓級芯片
測試,。

探針臺連接示意圖