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數(shù)字源表IV測試納米材料電性能方案

 
 
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品牌 普賽斯儀表
測試范圍 ±90uV-±300V/±30pA-±3A
測試精度 0.03%
工作環(huán)境 25±10℃
更新 2024-12-30 15:05
手機號:18140663476
 
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武漢普賽斯儀表有限公司

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產(chǎn)品詳細(xì)

概述

納米材料,,定義為粒徑在1-100納米之間一類超細(xì)材料,,具有表面效應(yīng),、小尺寸效應(yīng),、宏觀量子隧道效應(yīng)等一些特殊物理化學(xué)性能,。由于結(jié)構(gòu)有比表面積大,,粒徑小,,表面原子比例高等特點,,使得納米材料在電學(xué),、熱力學(xué)以及催化等多個方面有獨特的性能,被稱作21世紀(jì)Z具發(fā)展前景的材料,。

隨著納米材料在不同領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,,新型納米材料的研發(fā)具備了與往不同的特征,如納米發(fā)電材料,,納米溫差材料,,納米傳感器等。由于納米材料的種類,,以及功能眾多,,因此,納米材料的測試面臨如下測試挑戰(zhàn):

測試信號微弱,,納米材料測試多為樣品研發(fā)試驗階段,,需要測試樣品在單位面積產(chǎn)生的電壓或電流微弱信號。尤其是電流信號,,可低至nA,,甚至pA級。因此,,這就要求測試儀表,,具有準(zhǔn)確的微弱信號檢測能力。

外部噪聲干擾,,由于納米材料測試信號弱,,且部分材料特性易受外部環(huán)境變化干擾,這就需要在測試中對與測試無關(guān)的外部環(huán)境噪聲,,進行有效屏蔽,。比如采用四線制測試,降低線損壓降,;采用三同軸Guard方式降低線纜漏電流等等方式,。

試方式多樣,,多數(shù)納米材料在光,熱,,濕度等外部環(huán)境的激勵下,,具有一定的響應(yīng)特征。因此,,在對納米材料的研發(fā)中,,常需要測試樣品在不同外界激勵源的響應(yīng)輸出能力。多樣化的測試,,使得測試儀表具備多種測試功能,,如進行恒壓測試,I-V掃描測試,,V-t測試,,脈沖測試,多通道測試等,。


利用數(shù)字源表進行納米材料電特性表征

實施電性能參數(shù)表征分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表(SMU),。數(shù)字源表作為獨立的電壓源或電流源,可輸出恒壓,、恒流,、或者脈沖信號,還可以當(dāng)作表,,進行電壓或者電流測量,;支持Trig觸發(fā),可實現(xiàn)多臺儀表聯(lián)動工作,;針對有機OFET類型的三端類型納米器件以及多樣品驗證測試,,可直接通過2臺數(shù)字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道IV測試系統(tǒng)。  


S系列源表打造納米材料溫差器件測試方案

該方案主要針對納米材料溫差器件,,在不同溫度激勵下,,測試其輸出電壓以及輸出電流數(shù)據(jù)。如下圖所示,,整套測試系統(tǒng)構(gòu)成包括,,1臺S系列源表、溫度控制器,,待測器件,、測試連接線以及上位機軟件組成測試電路。采用兩電極測試方法對器件的輸出電壓進行測試,,將源表的高低電勢夾頭連接于器件輸出端,,隨著溫度的變化,在數(shù)字源表中獲得開路電壓或者輸出電流數(shù)據(jù),。

                        

                           輸出電壓測試連接示意圖                                                                                         


輸出電流與輸出電壓測試曲線

 

S系列/CS系列源表打造納米水伏發(fā)電材料測試方案

該方案主要用于,,測試納米水伏發(fā)電材料其輸出電壓以及輸出電流隨時間變化的曲線,,以驗證不同結(jié)構(gòu)材料的發(fā)電性能,。如下圖所示,,整套測試系統(tǒng)構(gòu)成包括,1臺S系列源表或者CS插卡式多通道源表,,待測器件,、測試連接線以及上位機軟件組成測試電路。采用二線制的測試方法,,對樣品期間兩端的輸出電壓或者電流進行持續(xù)采集,,在數(shù)字源表中獲得I-t或者V-t數(shù)據(jù)。

                                    

納米水伏發(fā)電材料測試連接圖                                                                                           



S系列/CS系列源表打造納米有機晶體管器件測試方案

輸出特性曲線測試

在施加不同的柵壓(VGS)時,,源漏電流 ISD隨著源漏電壓VDS變化而變化得出的曲線,稱之為輸出特性曲線,。

轉(zhuǎn)移特性曲線測試

在施加不同的源漏電壓 VDS下,源漏電流IDS隨著柵壓VGS的變化而變化得出的曲線,,稱之為轉(zhuǎn)移特性曲線,。

                

武漢普賽斯一直專注于納米材料,傳感器,,半導(dǎo)體器件等電性能測試儀表開發(fā),,基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術(shù)平臺優(yōu)勢,率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表,、脈沖式源表,、窄脈沖源表、集成插卡式源表等產(chǎn)品,。產(chǎn)品具有測試精度高,,微弱信號檢測能力強的特點,可夠根據(jù)用戶測試需求配置高效,,高性價比的納米材料測試方案,,可廣泛應(yīng)用在納米材料,傳感器,,半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品的研發(fā),,生產(chǎn)領(lǐng)域。


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