SiC|GaN第三代功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六,；普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向,，深耕半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗,，先后推出了直流源表,，脈沖源表、高電流脈沖源表,、高電壓源測單元等測試設(shè)備,，廣泛應(yīng)用于廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體測試行業(yè)； 本功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可以完成多項參數(shù)測試,，如ICES,、IGESF、IGESR,、BVCES,、VGETH、VCESAT,、VF等,。

測試系統(tǒng)簡介 

普賽斯PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，集多種測量和分析功能一體,，可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET,、BJT,、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù),，具有高電壓和大電流特性,、μΩ級J確測量,、nA級電流測量能力等特點,。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容，如輸入電容,、輸出電容  ,、反向傳輸電容等。

普賽斯PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)配置有多種測量單元模塊,，模塊化的設(shè)計測試方法    靈活,，方便用戶添加或升級測量模塊，適應(yīng)測量功率器件不斷變化的需求,。

系統(tǒng)組成

普賽斯PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),，主要包括測試主機、測試線,、測試夾具,、電腦、上位機軟件,，以及相關(guān)通訊,、測試配件等構(gòu)成。整套系統(tǒng)采用普賽斯自主開發(fā)的測試主機,，內(nèi)置多種規(guī)格電壓,、電流、電容測量單元模塊,。結(jié)合專用上位機測試軟件,，可根據(jù)測試項目需要，設(shè)置不同的電壓,、電流等參數(shù),，以滿足不同測試需求。測試數(shù)據(jù)可保存與導(dǎo)出,，并可生成I-V以及C-V特性曲線,。此外，測試主機可與探針臺搭配使用,，實現(xiàn)晶圓級芯片測試,；也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,，滿足高低溫測試需求,。

測試主機內(nèi)部采用的電壓,、電流測量單元，均采用多量程設(shè)計,，測試精度為0.1%,。其中，柵極-發(fā)射極,，Z大支持30V@10A脈沖電流輸出與測試,，可測試低至pA級漏電流；集電極-發(fā)射極,，Z大支持6000A高速脈沖電流,，典型上升時間為15μs，且具備電壓高速同步采樣功能,；Z高支持3500V電壓輸出,，且自帶漏電流測量功能。電容特性測試,，包括輸入電容,，輸出電容，以及反向傳輸電容測試,，頻率Z高支持1MHz,。

系統(tǒng)特點

高電壓：支持高達3.5KV高電壓測試（Z大擴展至10kV）；  
大電流：支持高達6KA大電流測試（多模塊并聯(lián)）,；
高精度：支持uΩ級導(dǎo)通電阻,、nA級漏電流測試；
豐富模板：內(nèi)置豐富的測試模板,，方便用戶快速配置測試參數(shù),；
配置導(dǎo)出：支持一鍵導(dǎo)出參數(shù)配置及一鍵啟動測試功能；
數(shù)據(jù)預(yù)覽及導(dǎo)出：支持圖形界面以及表格展示測試結(jié)果,，亦可一鍵導(dǎo)出,；
模塊化設(shè)計：內(nèi)部采用模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計，可自由配置,，方便維護,；
可拓展：支持拓展溫控功能，方便監(jiān)控系統(tǒng)運行溫度,；
可定制開發(fā)：可根據(jù)用戶測試場景定制化開發(fā),；

測試夾具

針對市面上不同封裝類型的硅基功率半導(dǎo)體，IGBT,、SiC,、MOS、GaN等產(chǎn)品,，普賽斯提供

整套測試夾具解決方案,，可用于T0單管,，半橋模組等產(chǎn)品的測試。

測試項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces,，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces,、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges,、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容,、輸出電容、反向傳輸電容
續(xù)流二極管壓降Vf
I-V特性曲線掃描,，C-V特性曲線掃描等

選擇普賽斯儀表的理由

武漢普賽斯是國內(nèi)最早生產(chǎn)源表的廠家,，產(chǎn)品系列豐富：產(chǎn)品覆蓋不同的電壓,、電流范圍,，產(chǎn)已經(jīng)過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用,；

普賽斯儀表特色：高電流,、高電壓測試，3500V電壓下可測量pA級漏電流,，1000A脈沖電流源15us的超快上升沿,。