半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流,，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)；通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,，過程既復(fù)雜又耗時,，還占用過多測試臺的空間。實施特性參數(shù)分析的蕞佳工具之一是大功率分立器件靜態(tài)測試系統(tǒng),，普賽斯半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)測試系統(tǒng)集多種測量和分析功能一體,，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT,、IGBT以及SiC,、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性,、μΩ級J確測量,、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,，如輸入電容,、輸出電容、反向傳輸電容等,。詳詢18140663476

系統(tǒng)特點和優(yōu)勢：
 
單臺Z大3500V輸出,；
 
單臺Z大1000A輸出，可并聯(lián)后Z大6000A,；
 
15us的超快電流上升沿,；
 
同步測量；
 
國標全指標的自動化測試；

系統(tǒng)指標

測試項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces,，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces,、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
 
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
 
柵極-發(fā)射極電壓Vges,、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
 
輸入電容,、輸出電容、反向傳輸電容     

續(xù)流二極管壓降Vf
 
I-V特性曲線掃描,，C-V特性曲線掃描等
 
普賽斯大功率分立器件靜態(tài)測試系統(tǒng)集多種測量和分析功能一體,，可精準測量功率器件（如MOSFET、BJT,、IGBT以及SiC,、GaN第三代半導(dǎo)體等）的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達10KV,電流可高達6KA,。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù),，具有高電壓和大電流特性，uΩ級電阻,，皮安級電流精準測量等特點,。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容，如輸入電容,，輸出電容,、反向傳輸電容等。功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計,，方便用戶添加或升級測量模塊,，適應(yīng)測量功率器件不斷變化的需求。 

PMST系列功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),，是普賽斯儀表經(jīng)過精心設(shè)計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng),。該系統(tǒng)不僅具備IV、CV,、跨導(dǎo)等多元化的測試功能,，還擁有高精度、寬測量范圍,、模塊化設(shè)計以及便捷的升級擴展等顯著優(yōu)勢,。它能夠全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET,、BJT,、IGBT到寬禁帶半導(dǎo)體SiC、GaN等晶圓,、芯片,、器件及模塊的靜態(tài)參數(shù)表征和測試需求，確保測量效率、一致性與可靠性的卓越表現(xiàn),。
此外,，普賽斯儀表功率半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試解決方案還支持交互式手動操作或結(jié)合探針臺的自動操作，能夠在整個表征過程中實現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征,。同時,，該方案還可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,，滿足高低溫測試需求,。從pA級、mV級高精度源表到kA級,、10kV源表,，普賽斯的產(chǎn)品解決了國內(nèi)企業(yè)在半導(dǎo)體芯片以及第三代半導(dǎo)體芯片測試中的儀表國產(chǎn)化問題,，并在客戶IGBT產(chǎn)線上推出了多條測試示范線,，引領(lǐng)了國內(nèi)IGBT測試的技術(shù)潮流。

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