分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流,，然后測試其對激勵做出的響應,，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成,，如數字萬用表,、電壓源,、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進行編程,、同步,、連接、測量和分析,，過程既復雜又耗時,，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作,，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點,。 實施半導體分立器件特性參數分析的Z佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源,、伏特計,、安培計和歐姆表,，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器,、波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統,，支持四象限工作。半導體特性測試儀IV曲線掃描儀認準普賽斯儀表,，詳詢一八一四零六六三四七六,；

產品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作          

內置強大的功能軟件,，加速用戶完成測試,，如LIV,、PIV

源及測量的準確度為0.03%

四象限工作（源和肼）,，源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式,，支持線性掃描,、指數掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式,，RS-232,、GPIB及以太網

技術參數

S系列源表應用

分立器件特性測試：電阻、二極管,、發(fā)光二極管,、齊納二極管、PIN二極管,、BJT三極管,、MOSFET、SiC,、GaN等器件,；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能,、電池,、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率,、霍爾效應等,；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等,；
納米材料特性測試：石墨烯,、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統,；
功率器件：靜態(tài)測試系統,；
電流傳感器：動靜態(tài)參數測試系統,；

更多有關半導體特性測試儀IV曲線掃描儀的信息找普賽斯儀表專員為您解答，武漢普賽斯是國內Z早生產源表的廠家,，產品系列豐富：產品覆蓋不同的電壓,、電流范圍，產已經過了市場的考驗,、市面有近500臺源表在使用,；普賽斯儀表特色：高電流、高電壓測試,，3500V電壓下可測量pA級漏電流,，1000A脈沖電流源15us的超快上升沿。